Tips! Jämför butikernas bokpriser och spara pengar!
Hf-Based High-k Dielectrics: Process Development, Performance Characterization, and Reliability (Synthesis Lectures on Solid State Materials and Devices)
Kim Young-Hee and Jack C. Lee
Paperback. Morgan & Claypool Publishers 2005-06-06.
ISBN 9781598290042
Hitta bokens lägsta pris
Liknande böcker
Analog Cmos Process Integration for Rf and Mixed Signal Soc
Optical Interconnects
Low and High Dielectric Constant Materials: Materials Science, Processing, and Reliability Issues and Thin Film Materials for Advanced Packaging Techn ... ceedings
Low and High Dielectric Constant Materials: Materials Science, Processing, and Reliability Issues, Proceedings
Low & High Dielectric Constant Materials: Materials Science, Processing & Reliability Issues
Recensioner
Den här boken har tyvärr inte några recensioner ännu. Om du redan läst boken,
skriv en recension
!
Recensera boken
Skriv en recension och dela dina åsikter med andra. Försök att fokusera på bokens innehåll.
Läs våra instruktioner
för mer information.
Hf-Based High-k Dielectrics: Process Development, Performance Characterization, and Reliability
Ditt betyg:
Skriv in en rubrik för din recension
(minst 2 ord):
Skriv in din recension i utrymmet nedan
(max 1000 ord):
Recensionens språk:
Svenska
Engelska
Ditt namn
(Valfritt):
Din e-postadress
(visas ej, används
endast
för verifiering):
Din recension kommer att visas inom fem till sju arbetsdagar.
Recensioner som inte följer våra
instruktioner
kommer inte att visas.
Bokrecensioner
»
Hf-Based High-k Dielectrics: Process Development, Performance Characterization, and Reliability (Synthesis Lectures on Solid State Materials and Devices)
Kategorier
Barn & ungdom
Databöcker
Deckare
Ekonomi & affärer
Filosofi & religion
Geografi & geologi
Hem & hushåll
Historia
Hobby & fritid
Kultur
Medicin & hälsa
Naturvetenskap
Psykologi & pedagogik
Samhälle & politik
Skönlitteratur
Språk
Uppslagsverk & ordböcker
Bokrecensioner
|
Hjälp & support
|
Om oss
